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       Qualitätssicherung bei IO-Link
      MIT NEUEN TESTS ZUM




      SICHEREN BETRIEB





       IO-Link wächst unaufhaltsam! Ende 2019 gab es bereits 16 Millionen ge-
       meldete Knoten. Damit einher gehen aber auch neue Herausforderungen in
       Bezug auf die Qualitätssicherung, etwa in Bezug auf die IODD-Spezifikation
       und Testspezifikation. Zwei Arbeitsgruppen in der IO-Link Community küm-
       mern sich darum.

       Nachdem sich IO-Link weltweit verbreitet   der Regeln durch einen frei verfügbaren
       hat,  tauchte  immer  mal  wieder  die  Frage   IODD-Checker geprüft.
       nach einer IO-Link-Zertifizierung durch
       unabhängige Stellen auf. Bisher waren die   Darüber hinaus ist es äußerst wichtig, dass   werden. Diese Schnittstelle mussten Master
       Hersteller von Sensoren und Aktuatoren es   weder Master-Port noch Device durch das je-  zusätzlich implementieren, um die Tests ab-
       schlicht nicht gewohnt, bei ihren zahlrei-  weilige Partnergerät zerstört wird (z. B. durch   laufen zu lassen.
       chen einfachen und kostengünstigen Gerä-  unerlaubte  Spannungen).  Die  Prüfung  der
       ten solch einen zusätzlichen Prozessschritt   elektromagnetischen Verträglichkeit  (EMV)   Im Laufe der Jahre hatten sich für die Test-Spe-
       in ihre Abläufe einzubauen. Allerdings gab   muss ebenfalls für alle Geräte unter Verwen-  zifikation V1.1.2 einige CRs (Change Request)
       es bereits eine ganzheitliche Qualitätssiche-  dung der in Frage kommenden IEC-Normen   in der Datenbank angesammelt, die von der
       rung für ihre Geräte inklusive Ein-Ausgangs-  geregelt sein. Von der IO-Link Test-Spezifikati-  entsprechenden  Working Group bearbeitet
       signalen gemäß IEC 61131-2 und für die   on nicht abgedeckt sind:     und nun zunächst in eine sogenannte Corr-
       spezifische Gerätetechnologie. Eine solche     Technologie-spezifische Funktionen    Version 1.1.2 eingebracht wurden. Diese Ver-
       Herstellererklärung wurde von den Kunden   eines Devices              sion ist für Test-Equipment-Hersteller für die
       akzeptiert.                           Performance-Stresstests, z. B. gleichzeitiger   Pflege ihrer „Alt“-Systeme gedacht und ist nur
                                           Betrieb von Master-Ports          in der Projekt-Datenbank verfügbar.
       Demzufolge wurde dieser Weg weiter be-    Master-Gateways zu übergeordneten
       schritten. Günstig erwerbbare  Testeinrich-  Systemen (Verantwortung der jeweiligen   Die fehlende einheitliche Master-Schnittstel-
       tungen für Devices und für Master sollten   Integrations-Spezifikation oder des    le „nach oben“ hat dazu geführt, dass sich die
       bereits während der Entwicklung, in der   IT-Protokolls)              Master am Markt entsprechend uneinheitlich
       Fertigung und im Feld einsetzbar sein. Die     Device-Profile (Verantwortung der    verhalten. Die Kunden forderten daher weit-
       erfolgreiche Anwendung dieser  Testein-  Profil-Spezifikation)        gehend  einheitliches  Verhalten  der  Master
       richtungen war Voraussetzung für die Her-    System-Extensions (z. B. funktionale   und eine Schnittstelle, die ein beliebiges
       stellererklärung. Von Anfang an fanden sich   Sicherheit oder Wireless)  Master-Tool für unterschiedliche Master ein-
       Mitgliedsfirmen, die als  Technologie-Provi-    Master-Tools (PDCTs)  setzbar macht. Diese Schnittstelle heißt SMI
       der entsprechende Produkte auf den Markt     Einhaltung weiterer Normen und    (Standardized Master Interface) und ist in der
       brachten. Während dieser Weg für Devices   Direktiven/Gesetze         Basis-Spezifikation V1.1.3 beschrieben. Sie ist
       recht problemlos vonstatten ging, bedurfte                            auch für Test-Systeme konzipiert.
       es für die Master wegen kleinerer Stückzahl   MASTER-SPEZIFIKATION MIT
       einer Anschubhilfe.                HOHEN ANFORDERUNGEN                REGELN FÜR DIE
                                                                             TEST-SPEZIFIKATION
       ANSPRUCH DER COMMUNITY             Die erste  Test-Spezifikation  V1.1.2 gelang
                                          auf der Device-Seite erstaunlich gut. Auf der   Sämtliche Testfälle sind in einer Art Daten-
       Wichtigstes Ziel war und ist die Interoperabi-  Master-Seite war es nicht ganz so einfach. Es   blatt (Template) erfasst und beschrieben.
       lität zwischen einem Master-Port und einem   gab kein verfügbares Wissen, für alle poten-  Sie sollen weitgehend unabhängig sein
       Device. Da zu einem Device auch eine voll-  ziell möglichen überlagerten Systeme wie   und vollständig ablaufen. Für die Wahl eines
       ständige  elektronische  Gerätebeschreibung   Feldbusse, IT-Systeme, usw. eine einheitliche   neuen  Testfall-Vorschlags gelten folgende
       (IODD) gehört, muss verifiziert werden, dass   Schnittstelle zu spezifizieren. Demzufolge   Kriterien:
       die Beschreibung mit dem Device überein-  musste erst eine spezielle Schnittstelle  zu     Gab es in der Vergangenheit einen CR
       stimmt. Die IODD selbst wird auf Einhaltung   Master-Testern entwickelt und spezifiziert   in der Datenbank?

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